司動(dòng)態(tài) 首臺(tái)國(guó)產(chǎn)Zeta電位分析儀由丹東百特和華南師大聯(lián)合研制成功
2017年6月5日,丹東百特研發(fā)中心實(shí)驗(yàn)室中,一臺(tái)造型大方厚重的納米顆粒Zeta電位分析儀樣機(jī)——BT-Zeta100有條不紊地在試驗(yàn)臺(tái)上配合著研發(fā)工程師進(jìn)行著一次次 Zeta電位測(cè)試,隨著測(cè)試的進(jìn)行,一組組Zeta電位的結(jié)果展現(xiàn)出良好的重復(fù)性和準(zhǔn)確性,標(biāo)志著這臺(tái)Zeta電位分析儀首次驚艷亮相就有不俗的表現(xiàn),宣告了首臺(tái)國(guó)產(chǎn)Zeta電位分析儀研制成功。
首臺(tái)國(guó)產(chǎn)Zeta電位分析儀的研制成功,是丹東百特與華南師范大學(xué)合作的最新成果。早在2014年8月,丹東百特就與華南師范大學(xué)簽訂聯(lián)合研發(fā)Zeta電位分析儀的協(xié)議并成立了項(xiàng)目組。兩年來(lái),以韓鵬教授為首的華南師范大學(xué)Zeta電位項(xiàng)目組,在測(cè)試原理、光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)分析處理等方面做了大量研究工作。以李曉光為首的百特Zeta電位項(xiàng)目組在技術(shù)路線(xiàn)、控制系統(tǒng)、儀器結(jié)構(gòu)、軟件設(shè)計(jì)等方面進(jìn)行了積極的探索,雙方密切聯(lián)系,定期互訪(fǎng),及時(shí)將最新的研究成果融合到樣機(jī)系統(tǒng)當(dāng)中。經(jīng)過(guò)兩年多的聯(lián)合攻關(guān),攻克了電滲影響、電場(chǎng)分布不均、實(shí)時(shí)相關(guān)信號(hào)處理、極性判斷等一系列技術(shù)難題,終于研制出了具有商業(yè)化前景的首臺(tái)國(guó)產(chǎn)Zeta電位分析儀。經(jīng)過(guò)與多種國(guó)外同類(lèi)儀器的對(duì)比測(cè)試,樣機(jī)在重復(fù)性、準(zhǔn)確性和分辨力等主要性能指標(biāo)上達(dá)到國(guó)外同類(lèi)產(chǎn)品先進(jìn)水平,項(xiàng)目取得了圓滿(mǎn)成功
。
BT-Zeta100型Zeta電位分析儀是基于電泳光散射(ELS)原理測(cè)量納米顆粒材料Zeta電位的,它不僅能測(cè)量納米顆粒的Zeta電位,同時(shí)具有測(cè)量納米粒度分布和分子量功能,是一個(gè)集粒度、分子量和Zeta電位于一體的高端納米顆粒分析儀器,能充分滿(mǎn)足納米材料主要物理性能分析,同時(shí)符合多項(xiàng)ISO國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。
BT-Zeta100采用了自主創(chuàng)新的微流控技術(shù)與自適應(yīng)光子相關(guān)技術(shù),保證了儀器的高測(cè)量精度和寬測(cè)量范圍,并申請(qǐng)了多項(xiàng)發(fā)明專(zhuān)利。此外,儀器的核心技術(shù)還包括小型光源組件、具有獨(dú)特結(jié)構(gòu)的Zeta電位樣品池、高靈敏度光電探測(cè)模組、高精度溫控系統(tǒng)、光學(xué)空間調(diào)制模塊等。BT-Zeta100是具有完全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的產(chǎn)品,它的研制成功,結(jié)束了中國(guó)納米顆粒Zeta電位分析儀器完全依靠進(jìn)口的歷史,為中國(guó)納米材料研究、生產(chǎn)與應(yīng)用提供科學(xué)準(zhǔn)確經(jīng)濟(jì)實(shí)用的測(cè)試手段,對(duì)促進(jìn)中國(guó)納米科技的發(fā)展具有重要意義。
附:Zeta電位小常識(shí):
1、什么是Zeta電位?測(cè)試Zeta電位的意義和作用是什么?
懸浮于液體中的納米顆粒表面都存在電荷,這些電荷會(huì)影響顆粒周?chē)鷧^(qū)域的離子分布,因此每個(gè)粒子周?chē)即嬖陔p電層,分別是固定層和滑動(dòng)層,滑動(dòng)層上的電位為Zeta電位。
Zeta電位的大小反映膠體體系的穩(wěn)定性趨勢(shì)。Zeta電位的絕對(duì)值越大,懸浮液體系越穩(wěn)定,懸浮液體系穩(wěn)定與不穩(wěn)定的分界線(xiàn)是Zeta電位±30mv,Zeta電位大于+30mv或小于-30mv的懸浮液體系是穩(wěn)定的,Zeta電位在+30mv到-30mv是不穩(wěn)定的。
通過(guò)Zeta電位的測(cè)試,可以幫助工程師找到阻止顆粒絮凝、保持懸浮液穩(wěn)定的配方,同樣也可以幫助工程師找到促使顆粒絮凝(廢水處理),加速顆粒沉淀的方法。
2、 電泳光散射Zeta電位測(cè)試原理
電泳光散射Zeta電位測(cè)試原理是通過(guò)激光多普勒測(cè)速技術(shù)對(duì)顆粒的電泳遷移率進(jìn)行測(cè)試,然后運(yùn)用所測(cè)的電泳遷移率及Henry函數(shù)進(jìn)行計(jì)算得到Zeta電位的。當(dāng)激光光束照射在固定電場(chǎng)作用下產(chǎn)生定向運(yùn)動(dòng)的帶電粒子時(shí),根據(jù)多普勒效應(yīng),粒子產(chǎn)生的散射光頻率將會(huì)有微小的變化。利用光學(xué)相干技術(shù),就能夠使散射光頻率變化轉(zhuǎn)換為光強(qiáng)的波動(dòng)變化,接著由光強(qiáng)的波動(dòng)頻率得到顆粒的運(yùn)動(dòng)速度。一方面,結(jié)合固定電場(chǎng)的方向和粒子的運(yùn)動(dòng)速度大小,得到粒子的帶電極性。另一方面,結(jié)合固定電場(chǎng)的大小和粒子的運(yùn)動(dòng)速度大小算出粒子在單位電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度,即電泳遷移率,再根據(jù)Henry函數(shù)計(jì)算出Zeta電位。