兩年一屆的全國顆粒測試學術會議，是由中國顆粒學會顆粒測試專業(yè)委員會主辦的顆粒測試領域的最高水平的學術交流會。在本次天津會議上，來自國內(nèi)外顆粒測試專家學者就顆粒測試技術的最新研究成果做了報告。百特產(chǎn)品總監(jiān)寧輝博士做了“背向動態(tài)光散射技術檢測高濃度納米樣品”的報告。他詳細講述了動態(tài)光散射和電泳光散射測試納米粒度和Zeta電位的原理，講述了高濃度納米樣品測試的背向動態(tài)光散射技術和采用此項技術的BeNano系列的儀器。寧博士用淺顯生動的語言講述高深的納米測試的最新技術問題，受到與會專家和代表的高度評價。

        中國顆粒學會顆粒測試專業(yè)委員會副主任、本次大會學術委員會副主席董青云全程出席了大會、專委會擴大會、專題報告會等多場活動并主持了特邀報告會。會議期間，董總與全國顆粒測試界的新老朋友共話情誼，探討了合作推進顆粒測試技術向更高水平邁進的途徑。

       本次學術交流會還設立了展覽區(qū)，展出了近兩年來國內(nèi)外顆粒測試的最新技術成果。丹東百特展出的BeNano 180 Zeta Pro納米粒度與Zeta電位儀，將90°和173°角納米粒度測試、ELS（電泳法）和PALS（相位分析法） Zeta電位測試四種技術于一體，既能測納米粒度又能側(cè)Zeta電位，既適用于低濃度又適用于高濃度，既能測常規(guī)量樣品，又能測微量樣品，既能配固體激光器又能配氣體激光器，并且它還能測試高分子及蛋白體系的分子量，是一種配置完整、功能強大、具有國際水平的納米分析儀器。

        為期兩天的第十三屆全國顆粒測試學術會議圓滿結束了，它將是攀登顆粒測試技術高峰征途上的加油站，為中國顆粒測試技術趕超世界先進水平助力前行。